Sažetak
Prostorna rezolucija konvencionalnih optičkih mikroskopa ograničena je difrakcijom na otprilike polovinu valne duljine svjetlosti. Da bi se prevladalo to ograničenje, razvijena je bezaperturna bliskopoljna skenirajuća optička mikroskopija – s-SNOM. Umjesto leća, s-SNOM koristi vrlo oštre metalizirane sonde na koje se fokusira laserska zraka. Time se stvara nanofokus na vrhu sonde, koji lokalno međudjeluje s uzorkom. Ovisno o optičkim svojstvima uzorka, takvo bliskopoljno međudjelovanje modificira amplitudu i fazu svjetlosti koju sonda raspršuje. Detektiranjem raspršene svjetlosti i skeniranjem uzorka, s-SNOM uređaj istovremeno formira optičku sliku i topografski profil uzorka. Optička rezolucija je pritom određena polumjerom zakrivljenosti vrha sonde i trenutno dostiže 10-20 nm. Posebno je zanimljivo da prostorna rezolucija u s-SNOM-u ne ovisi o valnoj duljini svjetlosti, tako da se ista rezolucija postiže u vidljivom dijelu spektra, kao i s infracrvenim te THz valovima.
Kombiniranjem s-SNOM-a i laserskih izvora u željenom dijelu spektra dobiva se analitički uređaj kojim se nedestruktivno mogu ispitivati kemijska, strukturna i električna svojstva uzoraka na nanometarskoj skali. Na temelju višegodišnjih znanstvenih istraživanja i tehničkog razvoja u području bliskopoljne mikroskopije, tvrtka Neaspec GmbH proizvela je prvi komercijalni s-SNOM uređaj te time stvorila osnovu za široku primjenu ove napredne metode u raznim granama istraživanja, uključujući nanofotoniku, karakterizaciju materijala i poluvodičku tehnologiju.
*Zajednički seminar Instituta za fiziku, Fizičkog odsjeka PMF-a i Hrvatskog biofizičkog društva
voditelji seminara IF-a Berislav Horvatić i Ivica Živković
voditelj seminara FO PMF-a Hrvoje Buljan
.
