6. veljače 2011.
ANTONIJA CVITKOVIĆ & NENAD OCELIĆ
Neaspec GmbH, Martinsried (München), Njemačka
Ponedjeljak, 18. travnja 2011, u 15:00 sati
Predavaonica u zgradi Mladen Paić, Institut za fiziku, Bijenička cesta 46, Zagreb
Prostorna rezolucija konvencionalnih optičkih mikroskopa ograničena je difrakcijom na otprilike polovinu valne duljine svjetlosti. Da bi se prevladalo to ograničenje, razvijena je bezaperturna bliskopoljna skenirajuća optička mikroskopija – s-SNOM. Umjesto leća, s-SNOM koristi vrlo oštre metalizirane sonde na koje se fokusira laserska zraka. Time se stvara nanofokus na vrhu sonde, koji lokalno međudjeluje s uzorkom. Ovisno o optičkim svojstvima uzorka, takvo bliskopoljno međudjelovanje modificira amplitudu i fazu svjetlosti koju sonda raspršuje. Detektiranjem raspršene svjetlosti i skeniranjem uzorka, s-SNOM uređaj istovremeno formira optičku sliku i topografski profil uzorka. Optička rezolucija je pritom određena polumjerom zakrivljenosti vrha sonde i trenutno dostiže 10-20 nm. Posebno je zanimljivo da prostorna rezolucija u s-SNOM-u ne ovisi o valnoj duljini svjetlosti, tako da se ista rezolucija postiže u vidljivom dijelu spektra, kao i s infracrvenim te THz valovima.
Kombiniranjem s-SNOM-a i laserskih izvora u željenom dijelu spektra dobiva se analitički uređaj kojim se nedestruktivno mogu ispitivati kemijska, strukturna i električna svojstva uzoraka na nanometarskoj skali. Na temelju višegodišnjih znanstvenih istraživanja i tehničkog razvoja u području bliskopoljne mikroskopije, tvrtka Neaspec GmbH proizvela je prvi komercijalni s-SNOM uređaj te time stvorila osnovu za široku primjenu ove napredne metode u raznim granama istraživanja, uključujući nanofotoniku, karakterizaciju materijala i poluvodičku tehnologiju.
*Zajednički seminar Instituta za fiziku, Fizičkog odsjeka PMF-a i Hrvatskog biofizičkog društva
voditelji seminara IF-a Berislav Horvatić i Ivica Živković
voditelj seminara FO PMF-a Hrvoje Buljan
HBD, sva prava pridržana, 2025
design: Viktor
Unesite pojmove za pretraživanje
+